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作者: 西瓜皮09 发布日期: 2007-05-12
不是很了解你要研究的是什么,不过纳米的东西一般会用TEM测试它的粒径的.
作者: pigdavid 发布日期: 2007-05-12
高分辨透射电镜
应该可以的
作者: yx_clouds 发布日期: 2007-05-12
一般的激光粒度仪器好像只能够测出50nm以上的颗粒大小分布，要是想要很好表征的话应该是只有TEM了，或者FESEM，理论上说如果分散很好的话AFM也可以的，测试完了用软件分析颗粒的分布情况，不过如同楼上说的，需要计算很多很多的粒子大小。但是好像听说过有种粒度仪可以测你说的范围的粒子分布，但不常用，如果必须要用粒度仪测粒度分布的话，可以上论坛打听打听:P
作者: 风中的秋千 发布日期: 2007-05-12
可以用AFM试试 偶也碰到过跟你类似的情况
后来用AFM检测了 结果还可以
作者: physchemboy 发布日期: 2007-05-12
HRTEM肯定可以的，好像高放大倍数的普通TEM也可以:P
作者: xptgt1 发布日期: 2007-05-12
HRTEM.就用这个！
作者: gfwu 发布日期: 2007-05-12
;)Brookhaven的激光粒度分析仪好象可以测出来，试试吧。
作者: songxuchun 发布日期: 2007-05-13
一般TEM就可以
作者: ahpeasant 发布日期: 2007-05-13
HRTEM，2nm的都能测
作者: yzq024 发布日期: 2007-05-15
TEM就可以 ,HRTEM 更好
作者: matrix3000 发布日期: 2007-05-15
HRTEM.
作者: GrasaVampiro 发布日期: 2007-05-16
SNOM
作者: liangfuxin 发布日期: 2007-05-17
动态光散射可测
作者: chinatem 发布日期: 2007-05-17
建议你用TEM先观察一下，然后用动态光散射（DLS）测量，得到具有统计意义的粒度分布。
作者: liren108 发布日期: 2007-05-19
纳米材料粒子粒径当然可以用TEM、SEM观察估计得出平均大约值，换可以用XRD进行表征，其粒径可以用Scherrer公式进行计算。 呵呵 然后相互对应即可验证了
:o:o:o:o:P:P:P:P:):):):):)
作者: xiaocolour 发布日期: 2007-05-24
我的大约5-10纳米，用TEM就看得到，
作者: bme81 发布日期: 2007-05-24
TEM or AFM
作者: hongze 发布日期: 2007-05-24
同上 TEM
作者: cyz316812 发布日期: 2007-05-25
不知道你的样品的性质以及你研究的目的，如果你可以把你的样品通过溶剂扩散法到样品台表面，那么一般的SEM,AFM,TEM都可以测
作者: lmx0704 发布日期: 2007-05-31
楼主在哪里？快递给我 我帮你测试好了。Beckman Coulter的N5纳米粒度仪，我用它测过几个纳米的TiO2样品。
作者: 123456789ww 发布日期: 2007-06-01
如果只看尺寸，场发射扫描电镜也可以呀.
作者: yunxuan2006 发布日期: 2007-06-01
TEM
场发射SEM
AFM
应该都可以的
作者: humingqian 发布日期: 2007-06-02
对，可以用原子力显微镜（AFM），我们实验室就是用这个做实验的，我也可以观察到少于20NM的呢
作者: bjgzs 发布日期: 2007-06-02
我也遇到过这样的问题，不过参考国外的文献，本人感觉有一个方法比较好的
用FE-SEM，然后用软件标出200个颗粒，进行统计，得到的数据一般比较认可的
作者: xmzhou 发布日期: 2007-06-02
马尔文激光粒度仪可以测量这种粒度,不过要分散性好
作者: chinatem 发布日期: 2007-06-03
QUOTE: Originally posted by xmzhou at 2007-6-3 07:49 AM:
马尔文激光粒度仪可以测量这种粒度,不过要分散性好 马尔文的zetasizer3000或zetasizer nano系列可以测量
作者: gejianhua13 发布日期: 2007-06-03
用TEM啊
:D:D:D
作者: 白菜叶 发布日期: 2007-06-04
场发射扫描电镜，TEM,AFM等等都可以阿，但是侧重点各有不同
作者: daisy_zxj 发布日期: 2007-06-04
如果是溶液的话，可以考虑使用动态激光光散射（DLS）的方法，不低于3nm的粒子都可以测出粒径及其分布。
作者: yjfeng2000 发布日期: 2007-06-04
TEM可以，XRD也可以用来计算下但是不太准！！
作者: davideok 发布日期: 2007-06-18
用LB 型激光粒度分析仪应该可以很好的测定出来
作者: lipingcn 发布日期: 2007-06-18
用激光粒度分析仪可以，但前提条件是选择针对样品的分散剂，保证测试前样品高度分散，否则测试结果误差会很大，使结果毫无意义！另外，使用TEM和粒度仪联合表征，结果更可信。
作者: zhoulin_6636 发布日期: 2007-06-20
高分辨透射电镜可以看到，一般的透射电镜和扫描电镜可能不太好看吧！
作者: holybird 发布日期: 2007-06-21
一般用TEM
作者: qiezi_7777 发布日期: 2007-06-24
我们实验室的马尔文粒度仪 好象可以测 我们以前测过12nm的纳米粒子
作者: dyn4870 发布日期: 2007-06-24
以TEM表征粒子的尺寸，并对100个以上的粒子的直径统计计算其平均值。TEM样品的制备是将胶体溶液滴在碳覆盖的铜网上，让溶液在室温挥发至干，然后在操作电压200 kV时摄取TEM图像。
作者: gl-xu 发布日期: 2007-06-24
用马尔文粒径分析仪啊，便宜
作者: yangjijndx 发布日期: 2007-06-24
动态激光光散射可以！测定的是流体动力学半径！它可以侧2-2000nm
作者: yangjijndx 发布日期: 2007-06-24
Laser Light Scattering ALV-5000 我们学院的！
作者: shuangyao 发布日期: 2007-06-29
高分辨透射显微镜 HRTEM
作者: keanelijin 发布日期: 2007-06-29
普通的TEM足够了
作者: smallpotatoq 发布日期: 2007-06-29
TEM、AFM都可以
作者: hongdouc 发布日期: 2007-06-29
SAXS
能得到粒径分布，但需要同步辐射才能达到强度要求。
作者: haoyu031 发布日期: 2007-07-30
日本JEM-200CX型透射电镜观察纳米银粒子形貌
作者: yangjijndx 发布日期: 2007-07-30
激光光散射ALV-5000
作者: yxp0212 发布日期: 2007-07-31
SEM 扫描电子显微镜 用于测定微米级固体颗粒
TEM 透射电子显微镜 用于测定纳米级固体颗粒(<=100nm)
建议你用SEM试试
作者: 纳米镍粉 发布日期: 2007-09-05
老大是作纳米检测的吗？QQ群：32949499，那里面有高手
作者: wo820 发布日期: 2007-09-07
HRTEM AFM
作者: lina1981 发布日期: 2007-09-07
激光粒度仪和透射电镜都可以，但大部分透射电镜都没有电脑接口，粒径大小须由你自己量
作者: 吴刚3 发布日期: 2007-09-07
ZETA电位仪可以测1nm的，透射电镜也可，不同型号测量程度不一样。
作者: yzq64 发布日期: 2007-09-18
用马尔文激光粒度可以检测出来
作者: changqw 发布日期: 2007-09-18
我测过10nm 左右的，用高分辨透射电镜（HRTEM ）
作者: 纳米镍粉 发布日期: 2007-10-01
溶液中用电镜测试比较困难的，建议用SAXS或者是SANS，再辅助以电镜和光散射方法来测试
你去QQ群问问：32949499
作者: 独孤久健 发布日期: 2007-10-02
可以采用Malvern Zetasizer。不过这个仪器很贵，不是很常见。
作者: nofail 发布日期: 2007-10-14
可以用XRD吧，TEM要小心团聚
作者: flydolphin 发布日期: 2007-10-15
Malvern 的仪器应该能测出来。
作者: chfwin2008 发布日期: 2007-10-15
tem肯定可以的
作者: ylfengzhang 发布日期: 2007-10-15
就是TEM了
作者: lbaoyi 发布日期: 2007-10-16
HRTEM肯定可以的，好像高放大倍数的普通TEM也可以
顶这个
作者: southking 发布日期: 2007-10-16
Malvern 的Zetasizer ® Nano 系列，可以对 0.6 纳米至 6 微米的颗粒和分子进行测量。
作者: rossineri 发布日期: 2007-10-19
做电境的时候可能需要超声一下，用激光粒径的话不知道malvern的行不行？实验室这边没有做过这么小的。
作者: wanxizhuren 发布日期: 2007-10-19
TEM 就可以了,效果不错,20nm没有问题,
作者: jhzhang1212 发布日期: 2007-11-02
透射电镜 扫描电镜都可以做
XRD也可以做平均粒径和粒度分布
作者: yoyofree 发布日期: 2007-11-02
HRTEM。可以处理成固体样的话，SEM也不错
作者: maocj 发布日期: 2007-11-05
一般的电镜应该就可以了，高分辨肯定没问题
作者: dongjiao541 发布日期: 2007-11-06
一般TEM可以
作者: sailoryl 发布日期: 2007-11-07
这台仪器可以测试zeta电位和粒度，测试粒度的范围是0.6nm－6微米
作者: sailoryl 发布日期: 2007-11-07
QUOTE: Originally posted by southking at 2007-10-16 14:24:
Malvern 的Zetasizer ® Nano 系列，可以对 0.6 纳米至 6 微米的颗粒和分子进行测量。 发了评论才看到前面的gg已经有答案了
嘿嘿
作者: nmcl2006 发布日期: 2007-11-23
TEM完全可以可以了
作者: xiaqz 发布日期: 2007-12-19
小角散射阿！
比如小角Ｘ射线散射，小角中子散射等，20ｎｍ没问题的！还比ＴＥＭ等统计性更好，更高。
作者: zhangweihong 发布日期: 2007-12-21
高分辨透射电镜就可以看
作者: 辆呼 发布日期: 2008-01-18
我觉得AFM不适合做粒径这么小的纳米颗粒
作者: mitchie 发布日期: 2008-01-19
AFM或者高分辨透射电镜，或者找一台更好的激光光散射仪。
作者: sgyin 发布日期: 2008-01-19
吸收光谱也可以，利用纳米粒子的量子尺寸效应可以计算纳米半导体的尺寸，例如ZnO、CdS等等纳米粒子10nm一下都可以用这种方法。
作者: wanghf817 发布日期: 2008-02-16
DLS dynamic light scattering, 动态光散射分析仪
AFM, TEM,应该都是可以的:)
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