1.可以采用机器上带的软件对基线进行Fourier和Smooth处理。
2.样品结晶度太低，造成基线噪音过大，可以控制反应条件，提高样品结晶度。
3.用压片机将样品压片，提高样品表面光滑度，可以很好的降低基线噪音。
4.降低狭缝宽度，也可以降低基线噪音。


做好晶体，提高结晶度法效果最好，压片法其次，减小狭缝法稍差，smooth法是最差的也是最常用的。

当然上面的方法是可以组合用的，可以同时都用，效果会非常好。

[ Last edited by 纳米镍粉 on 2008-3-11 at 06:59 ]

谢谢分享 :D

谢谢分享！

呵呵，多谢，欢迎经验性原创帖子，可惜不能给您加分啊

我有一个问题，通过处理软件smooth处理后的图谱与直接降低噪音的图谱有没有区别？那个更好？

最好的办法还是从源头上，做好晶体，压片法其次，减小狭缝法更差，smooth法是最差的。

1.不建议用软件对基线进行Fourier和Smooth处理，有时信号会失真；
2.第二点是样品本身的问题；样品改变了，信噪比自然就不一样了；
3.样品压片在实际实验中是很难操作的，因为常规的XRD样品的片子比较大，可能一般实验室没有相应的压片机；
4.狭缝宽度的改变好象会影响分辨率；不建议牺牲分辨率来降低信噪比；
5.因此本人认为应该增加扫描时间。
以上是本人对XRD一点肤浅的认识。

[ Last edited by mengfeiluo on 2007-9-11 at 07:42 ]

3.压片尺比较大？ 不用吧，只有中心有0.5-1平方厘米就可以呀。
5.延长扫描时间没有用的，你可以试试20分钟和2个小时的效果基本一样。

[ Last edited by xsfh on 2007-9-11 at 08:53 ]

我同意mengfeiluo的意见，样品最好能研磨细，压平，增加时间效果会一些。

样品不能研磨的太细

xiexiele

找个周末啥的 慢扫 最好XRD周围的设备不要开

为什么不能研磨的太细呢？
我个人感觉样品的平整度和扫描速度关系很大，降低扫描速度能够在一定程度上提高信噪比，当然这个跟样品的种类有关，楼主提到的几种方法，除了提高晶体质量这一点是样品制备的问题，另外三个都是测试操作可以改进的地方。如果想得到高质量的pattern，还是在样品制备上下功夫吧